导引头光学系统性能测试仪的研制

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导引头光学系统性能测试仪的研制

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彭其圣. 导引头光学系统性能测试仪的研制[J]. 红外技术, 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

引用本文:

彭其圣. 导引头光学系统性能测试仪的研制[J]. 红外技术, 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

Research of Testing System of Infrared Guidance Head[J]. Infrared Technology , 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

Citation:

Research of Testing System of Infrared Guidance Head[J]. Infrared Technology , 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

彭其圣. 导引头光学系统性能测试仪的研制[J]. 红外技术, 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

引用本文:

彭其圣. 导引头光学系统性能测试仪的研制[J]. 红外技术, 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

Research of Testing System of Infrared Guidance Head[J]. Infrared Technology , 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

Citation:

Research of Testing System of Infrared Guidance Head[J]. Infrared Technology , 2004, 26(1): 27-30. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

导引头光学系统性能测试仪的研制

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

彭其圣

中南民族大学电信学院,湖北,武汉,430074
中南民族大学

中图分类号: TN216
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出版历程

Research of Testing System of Infrared Guidance Head

摘要: 研制了一种基于1.064 μm导引头的光斑测试仪.该测试仪以1.064 μm导引头为被测对象,以红外面阵CCD探测器为接收器,采用1.064 μm的激光光源模拟无穷远点光源,分析光源通过被检系统后,其焦平面上成像光斑的质量.通过RS-232串口通讯及图像采集卡的实时数据采集自动寻找最佳像面位置及最大视场角.测试结果表明:系统重复性好、可靠性高、自动化程度高.
- 红外导引头 /
- 电荷耦合器件 /
- 数据采集 /
- 自动聚焦

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