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应用红外热像技术测量电子元件正常工作条件下的表面温度

杨晶,  M.Behnia,  G.Morrison

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文章导航 > 红外技术  > 2002 >  24(3): 44-48
杨晶, M.Behnia, G.Morrison. 应用红外热像技术测量电子元件正常工作条件下的表面温度[J]. 红外技术, 2002, 24(3): 44-48. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.012
引用本文: 杨晶, M.Behnia, G.Morrison. 应用红外热像技术测量电子元件正常工作条件下的表面温度[J]. 红外技术, 2002, 24(3): 44-48. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.012
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Application of Infrared Thermography in Surface Temperature Measurement of Electronic Devices at Normal Operating Conditions[J]. Infrared Technology , 2002, 24(3): 44-48. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.012
Citation: Application of Infrared Thermography in Surface Temperature Measurement of Electronic Devices at Normal Operating Conditions[J]. Infrared Technology , 2002, 24(3): 44-48. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.012
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应用红外热像技术测量电子元件正常工作条件下的表面温度

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.012

  • 北京科技大学,机械工程学院,北京,100083

  • 新南威尔士大学,机械与制造工程学院,澳大利亚

  • 北京科技大学

  • 新南威尔士大学

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  • 中图分类号: TN215

Application of Infrared Thermography in Surface Temperature Measurement of Electronic Devices at Normal Operating Conditions

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