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金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究

李野,  但唐仁,  高延军,  程轶,  姜得龙,  田景全

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文章导航 > 红外技术  > 2002 >  24(3): 31-33,37
李野, 但唐仁, 高延军, 程轶, 姜得龙, 田景全. 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究[J]. 红外技术, 2002, 24(3): 31-33,37. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.008
引用本文: 李野, 但唐仁, 高延军, 程轶, 姜得龙, 田景全. 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究[J]. 红外技术, 2002, 24(3): 31-33,37. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.008
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Effects of Metallic Film UV Transmittance on Electron Gain of MCP[J]. Infrared Technology , 2002, 24(3): 31-33,37. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.008
Citation: Effects of Metallic Film UV Transmittance on Electron Gain of MCP[J]. Infrared Technology , 2002, 24(3): 31-33,37. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.008
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金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.008

  • 长春光学精密机械学院,吉林,长春,130022

  • 长春理工大学

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  • 中图分类号: TN144

Effects of Metallic Film UV Transmittance on Electron Gain of MCP

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