Study of Photochemical Oxidation of n-type Mercury Cadmium Tellurium Photoconductance Detectors
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摘要: 采用光化学氧化钝化方法,首次实现了对n型碲镉汞光电导探测器的表面钝化;利用XPS分析了不同光化学氧化条件对氧化的影响及氧化物的构成,探讨了光化学氧化钝化的机理,并对光化学氧化钝化和阳极氧化的两类探测器性能进行了比较.
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