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大直径HgCdTe晶体的结构缺陷分析

韩庆林,  王跃,  李全保,  吴刚,  马庆华

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文章导航 > 红外技术  > 2001 >  23(2): 4-7
韩庆林, 王跃, 李全保, 吴刚, 马庆华. 大直径HgCdTe晶体的结构缺陷分析[J]. 红外技术, 2001, 23(2): 4-7. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.002
引用本文: 韩庆林, 王跃, 李全保, 吴刚, 马庆华. 大直径HgCdTe晶体的结构缺陷分析[J]. 红外技术, 2001, 23(2): 4-7. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.002
shu
Analysis of Structure Defect in the Large Diameter HgCdTe Crystal[J]. Infrared Technology , 2001, 23(2): 4-7. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.002
Citation: Analysis of Structure Defect in the Large Diameter HgCdTe Crystal[J]. Infrared Technology , 2001, 23(2): 4-7. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.002
shu

大直径HgCdTe晶体的结构缺陷分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.002

  • 昆明物理研究所,云南,昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN213

Analysis of Structure Defect in the Large Diameter HgCdTe Crystal

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