红外焦平面探测器贮存寿命试验研究

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

红外焦平面探测器贮存寿命试验研究

刘若冰, 陈勤

文章导航 > 红外技术 > 2019 > 41(12): 1124-1132

刘若冰, 陈勤. 红外焦平面探测器贮存寿命试验研究[J]. 红外技术, 2019, 41(12): 1124-1132.

引用本文:

刘若冰, 陈勤. 红外焦平面探测器贮存寿命试验研究[J]. 红外技术, 2019, 41(12): 1124-1132.

LIU Ruobing, CHEN Qin. Research on Storage Lifetime Test of Infrared Focal Plane Array Detectors[J]. Infrared Technology , 2019, 41(12): 1124-1132.

Citation:

LIU Ruobing, CHEN Qin. Research on Storage Lifetime Test of Infrared Focal Plane Array Detectors[J]. Infrared Technology , 2019, 41(12): 1124-1132.

刘若冰, 陈勤. 红外焦平面探测器贮存寿命试验研究[J]. 红外技术, 2019, 41(12): 1124-1132.

引用本文:

刘若冰, 陈勤. 红外焦平面探测器贮存寿命试验研究[J]. 红外技术, 2019, 41(12): 1124-1132.

LIU Ruobing, CHEN Qin. Research on Storage Lifetime Test of Infrared Focal Plane Array Detectors[J]. Infrared Technology , 2019, 41(12): 1124-1132.

Citation:

LIU Ruobing, CHEN Qin. Research on Storage Lifetime Test of Infrared Focal Plane Array Detectors[J]. Infrared Technology , 2019, 41(12): 1124-1132.

红外焦平面探测器贮存寿命试验研究

刘若冰,
陈勤

中国电子技术标准化研究院,北京,100007
中国电子技术标准化研究院

中图分类号: TN215
计量
- 文章访问数: 82
- HTML全文浏览量: 17
- PDF下载量: 31
- 被引次数: 0
出版历程

Research on Storage Lifetime Test of Infrared Focal Plane Array Detectors

摘要: 本文以红外焦平面探测器为研究对象,在充分分析历年来国内红外焦平面探测器贮存寿命试验数据的基础上,研究了产品的失效模式和失效机理,并对贮存寿命试验前后关键参数指标变化量进行了深入分析,为全面评价红外焦平面探测器产品质量和可靠性提供了依据,为后续红外焦平面探测器的标准制修订工作奠定了基础.
- 红外焦平面探测器 /
- 贮存寿命 /
- 试验数据

参考文献(0)

资源附件(0)

WeChat

点击查看大图

计量

文章访问数: 82
HTML全文浏览量: 17
PDF下载量: 31
被引次数: 0

/

下载: 全尺寸图片幻灯片

分享

用微信扫码二维码

分享至好友和朋友圈

返回

版权所有 © 《红外技术》编辑部京ICP备000000000号-1

本系统由北京仁和汇智信息技术有限公司开发