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非制冷红外探测器片上偏压逐点非均匀性校正方法

张宁,  柴孟阳,  赵航斌,  孙德新

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文章导航 > 红外技术  > 2017 >  39(8): 682-687
张宁, 柴孟阳, 赵航斌, 孙德新. 非制冷红外探测器片上偏压逐点非均匀性校正方法[J]. 红外技术, 2017, 39(8): 682-687.
引用本文: 张宁, 柴孟阳, 赵航斌, 孙德新. 非制冷红外探测器片上偏压逐点非均匀性校正方法[J]. 红外技术, 2017, 39(8): 682-687.
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ZHANG Ning, CHAI Mengyang, ZHAO Hangbin, SUN Dexin. On-chip Bias Point-by-Point Non-uniformity Correction of Uncooled Infrared Detector[J]. Infrared Technology , 2017, 39(8): 682-687.
Citation: ZHANG Ning, CHAI Mengyang, ZHAO Hangbin, SUN Dexin. On-chip Bias Point-by-Point Non-uniformity Correction of Uncooled Infrared Detector[J]. Infrared Technology , 2017, 39(8): 682-687.
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非制冷红外探测器片上偏压逐点非均匀性校正方法

  • 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049

  • 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083

  • 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049;中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心,江苏启东 226200

基金项目: 国家重点研发计划(2016YFB0500401)%国家863计划(2014AA123201)%国家高分辨率对地观测系统重大专项(A0106/1112)
详细信息

  • 中图分类号: TN215

On-chip Bias Point-by-Point Non-uniformity Correction of Uncooled Infrared Detector

    摘要
  • 摘要: 针对非制冷红外焦平面阵列(Uncooled Infrared Focal Plane Array,UIRFPA)成像系统中普遍存在的非均匀性较差的问题,本文提出了一种基于探测器工作偏压对其输出影响来进行片上非均匀性校正(Non-uniformity Correction,NUC)的方法——探测器片上偏压逐点NUC技术.该方法是在探测器每一个像元关键偏压VEB和VFID上使用DAC供电,通过在积分前对每个像元的偏压进行单独的调整来校正其信号输出值.在不影响探测器帧频的情况下,实现了非均匀性从1.9%降低到0.4%,有效改善了探测器原始信号的非均匀性,且具有很好的实时性.
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