高级检索
ENGLISH

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

热带雨林环境中锗基底薄膜微缺陷对减反射膜环境稳定性的影响

王乔方,  任跃,  字正华,  王贵全,  刘剑,  张宏坤,  杨玉萍,  彭代东,  孙娟,  王茜

downloadPDF
文章导航 > 红外技术  > 2016 >  38(12): 1073-1077
王乔方, 任跃, 字正华, 王贵全, 刘剑, 张宏坤, 杨玉萍, 彭代东, 孙娟, 王茜. 热带雨林环境中锗基底薄膜微缺陷对减反射膜环境稳定性的影响[J]. 红外技术, 2016, 38(12): 1073-1077.
引用本文: 王乔方, 任跃, 字正华, 王贵全, 刘剑, 张宏坤, 杨玉萍, 彭代东, 孙娟, 王茜. 热带雨林环境中锗基底薄膜微缺陷对减反射膜环境稳定性的影响[J]. 红外技术, 2016, 38(12): 1073-1077.
shu
WANG Qiaofang, REN Yue, ZI Zhenghua, WANG Guiquan, LIU Jian, ZHANG Hongkun, YANG Yuping, PENG Daidong, SUN Juan, WANG Qian. Influence of the Micro Defect on the Stability of Ge-base Antireflective Films in Tropical Rainforest Environment[J]. Infrared Technology , 2016, 38(12): 1073-1077.
Citation: WANG Qiaofang, REN Yue, ZI Zhenghua, WANG Guiquan, LIU Jian, ZHANG Hongkun, YANG Yuping, PENG Daidong, SUN Juan, WANG Qian. Influence of the Micro Defect on the Stability of Ge-base Antireflective Films in Tropical Rainforest Environment[J]. Infrared Technology , 2016, 38(12): 1073-1077.
shu

热带雨林环境中锗基底薄膜微缺陷对减反射膜环境稳定性的影响

  • 昆明物理研究所，云南昆明 650223; 昆明北方红外技术股份有限公司，云南昆明 650217

  • 昆明北方红外技术股份有限公司,云南昆明,650217

  • 国营第二九八厂,云南昆明,650114

  • 昆明北方红外技术股份有限公司

基金项目: 国防科技工业技术基础科研支撑项目。
详细信息

  • 中图分类号: TP391.4%TN213

Influence of the Micro Defect on the Stability of Ge-base Antireflective Films in Tropical Rainforest Environment

WeChat 点击查看大图
计量
  • 文章访问数:  80
  • HTML全文浏览量:  20
  • PDF下载量:  14
  • 被引次数: 0
出版历程

目录

    /

    返回文章
    返回

    版权所有 © 《红外技术》编辑部京ICP备000000000号-1

    本系统由 北京仁和汇智信息技术有限公司 开发    百度统计