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缺陷红外诊断的热激励方式对比研究

贾文抖 范春利 孙丰瑞 杨立

贾文抖, 范春利, 孙丰瑞, 杨立. 缺陷红外诊断的热激励方式对比研究[J]. 红外技术, 2014, (10): 849-855.
引用本文: 贾文抖, 范春利, 孙丰瑞, 杨立. 缺陷红外诊断的热激励方式对比研究[J]. 红外技术, 2014, (10): 849-855.
JIA Wen-dou, FAN Chun-li, SUN Feng-rui, YANG Li. A Comparative Study on Thermal Excitations of Thermographic Defect Inspection and Identification[J]. Infrared Technology , 2014, (10): 849-855.
Citation: JIA Wen-dou, FAN Chun-li, SUN Feng-rui, YANG Li. A Comparative Study on Thermal Excitations of Thermographic Defect Inspection and Identification[J]. Infrared Technology , 2014, (10): 849-855.

缺陷红外诊断的热激励方式对比研究

基金项目: 国家自然科学基金,编号50906099%51479203。
详细信息
  • 中图分类号: TK124

A Comparative Study on Thermal Excitations of Thermographic Defect Inspection and Identification

  • 摘要: 热激励方式的合理选择是保证主动缺陷检测以及定量识别效果的前提。建立了一个用于分析不同热激励方式下缺陷试件红外检测表面温度分布规律的二维导热模型。针对几种常见热激励方式,通过改变加热面积、加热位置及热流密度来改变热激励的施加方式,系统地分析了带有缺陷的试件在施加不同热激励时红外检测表面的温度分布规律,发现在多个相邻边界面施加热激励时可获得较好的缺陷识别加热效果。
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