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红外焦平面器件微扫描技术的发展

王忆锋,  侯辉,  冯雪艳

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文章导航 > 红外技术  > 2013 >  (12): 751-758
王忆锋, 侯辉, 冯雪艳. 红外焦平面器件微扫描技术的发展[J]. 红外技术, 2013, (12): 751-758.
引用本文: 王忆锋, 侯辉, 冯雪艳. 红外焦平面器件微扫描技术的发展[J]. 红外技术, 2013, (12): 751-758.
shu
WANG Yi-feng, HOU Hui, FENG Xue-yan. Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array[J]. Infrared Technology , 2013, (12): 751-758.
Citation: WANG Yi-feng, HOU Hui, FENG Xue-yan. Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array[J]. Infrared Technology , 2013, (12): 751-758.
shu

红外焦平面器件微扫描技术的发展

  • 昆明物理研究所,云南 昆明,650223

  • 总参陆航部驻成都地区军事代表室,四川 成都,610036

  • 中国兵器工业集团公司科技部,北京,100821

  • 中国科学院昆明物理研究所

  • 中国人民解放军总参陆航部驻成都地区军事代表室

  • 中国兵器工业集团公司

详细信息

  • 中图分类号: TN215

Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array

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