Back-thining on Reliability Influence for MW 320×256 MCT IRFPA
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摘要: 通过对A版(初减薄)和B版(终减薄)中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验,并对其试验后的光电特性进行比较,最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。
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