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基于二种载流子体系的HgCdTe材料的霍尔电压与载流子浓度关系

彭曼泽 李东升 李秋妍 田立萍 吴刚

彭曼泽, 李东升, 李秋妍, 田立萍, 吴刚. 基于二种载流子体系的HgCdTe材料的霍尔电压与载流子浓度关系[J]. 红外技术, 2013, (6): 364-367.
引用本文: 彭曼泽, 李东升, 李秋妍, 田立萍, 吴刚. 基于二种载流子体系的HgCdTe材料的霍尔电压与载流子浓度关系[J]. 红外技术, 2013, (6): 364-367.
PENG Man-ze, LI Dong-sheng, LI Qiu-yan, TIAN Li-ping, WU Gang. The Relations between Hall Voltage and Carrier Concentration of Two Kinds of Carrier Conduction System for HgCdTe[J]. Infrared Technology , 2013, (6): 364-367.
Citation: PENG Man-ze, LI Dong-sheng, LI Qiu-yan, TIAN Li-ping, WU Gang. The Relations between Hall Voltage and Carrier Concentration of Two Kinds of Carrier Conduction System for HgCdTe[J]. Infrared Technology , 2013, (6): 364-367.

基于二种载流子体系的HgCdTe材料的霍尔电压与载流子浓度关系

详细信息
  • 中图分类号: TN215

The Relations between Hall Voltage and Carrier Concentration of Two Kinds of Carrier Conduction System for HgCdTe

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