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摘要: 受材料、制造工艺等因素的影响,红外焦平面阵列探测器均存在一定数量的盲元.在分析探测单元响应特性的基础上,提出一种双参考辐射源+定义检测算法.实验结果表明,该算法具有盲元误检率低,查找快速等优点.
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引用本文: | 姚琴芬, 顾国华. 一种新的红外焦平面阵列盲元检测算法[J]. 红外技术, 2012, (8): 441-443. |